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Koautoren
- Sunghoon KimQualcomm IncorporatedBestätigte E-Mail-Adresse bei qti.qualcomm.com
- Jinyoung OhSamsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Donghan KimSamsung ElectronicsBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Devaki ChandramouliNokiaBestätigte E-Mail-Adresse bei nokia.com
- Kyeongin JeongIntelBestätigte E-Mail-Adresse bei intel.com
- Hyojin LeeQualcomm Technologies Inc.Bestätigte E-Mail-Adresse bei postech.ac.kr
- Hyoung-ju JiPrincipal Engineer of Samsung Electronics. LtdBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Shin CheolkyuAssistant Professor, Hallym UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei hallym.ac.kr
- Youngwoo KwakInterDigital, Inc.Bestätigte E-Mail-Adresse bei InterDigital.com
- IICKHO SONGKorea Advanced Institute of Science and TechnologyBestätigte E-Mail-Adresse bei ieee.org
- Hoondong NohETRIBestätigte E-Mail-Adresse bei etri.re.kr
- Younsun KimSamsungBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Lee JuhoSamsung ElectronicsBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Malgorzata TomalaNokia Bell LabsBestätigte E-Mail-Adresse bei nokia.com
- SEUNGWON LEESamsung ElectronicsBestätigte E-Mail-Adresse bei ieee.org
- Yeonwoo LeeMokpo National UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei mokpo.ac.kr