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Koautoren
- David J. LoveNick Trbovich Professor of ECE, Purdue UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei ecn.purdue.edu
- Boon Loong NgSamsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Peshal NayakEngineer, Technology StandardizationBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Gilwon LeeSamsung Research America, Plano, TXBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Jeongho JeonSamsung Research America, MV, CABestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Vishnu V RatnamStaff Research Engineer 2, Samsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- James KrogmeierElectrical and Computer Engineering, Purdue UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei purdue.edu
- Hao ChenSamsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Jing GuoPurdue UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei purdue.edu
- Gary XuSamsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Joonyoung ChoSamsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Jin YuanSamsung Research America - DallasBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Younsun KimSamsungBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Taejoon KimProfessor of EECS, The University of KansasBestätigte E-Mail-Adresse bei ku.edu
- Young Han NamSamsungBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Junil ChoiTenured Associate Professor of KAIST, School of Electrical EngineeringBestätigte E-Mail-Adresse bei kaist.ac.kr
- Thomas MarzettaDistinguished Industry Professor, Department of Electrical and Computer Engineering, New YorkBestätigte E-Mail-Adresse bei nyu.edu
- Ameya AgaskarResearch Scientist, Amazon AlexaBestätigte E-Mail-Adresse bei post.harvard.edu
- Mohamed El GamalCairo University, Faculty of EngineeringBestätigte E-Mail-Adresse bei aucegypt.edu
- Mohamed FoudaNorthwestern UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei u.northwestern.edu