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Koautoren
- Lingjia LiuElectrical and Computer Engineering Department, Virginia TechBestätigte E-Mail-Adresse bei vt.edu
- Jianzhong (Charlie) ZhangSamsungBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Boon Loong NgSamsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Vikram ChandrasekharCommunication System Design EngineerBestätigte E-Mail-Adresse bei amazon.com
- Young Han NamSamsungBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Vishnu V RatnamStaff Research Engineer 2, Samsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Yang (Cindy) YiVirginia TechBestätigte E-Mail-Adresse bei vt.edu
- Rachad AtatAssistant Research ScientistBestätigte E-Mail-Adresse bei qatar.tamu.edu
- Chance TarverSamsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Joseph R. CavallaroProfessor of Electrical and Computer Engineering, Rice UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei rice.edu
- Jeffrey ReedProfessor of Electrical and Computer EngineeringBestätigte E-Mail-Adresse bei vt.edu
- Pinyi RenDepartment of Information and Communications Engineering, School of Electronic and InformationBestätigte E-Mail-Adresse bei mail.xjtu.edu.cn
- Joseph CampSouthern Methodist University (SMU)Bestätigte E-Mail-Adresse bei smu.edu
- Pengda HuangSamsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Qinghe DuProfessor, Xi'an Jiaotong UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei mail.xjtu.edu.cn
- Li SUNSchool of Information and Communications Engineering, Xi'an Jiaotong UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei xjtu.edu.cn
- Nicholas MastronardeAssociate Professor, Department of Electrical Engineering, University at BuffaloBestätigte E-Mail-Adresse bei buffalo.edu