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Koautoren
- Jianlin LiuProfessor of Electrical and Computer Engineering, University of California, RiversideBestätigte E-Mail-Adresse bei ece.ucr.edu
- Na RenUniversity of California, Los AngelesBestätigte E-Mail-Adresse bei ucla.edu
- Jian-Guo ZhengDirector of Facilities, Irvine Materials Research Institute, University of California IrvineBestätigte E-Mail-Adresse bei uci.edu
- Zhongguang XuMicron, UC Riverside, institute of microelectronics, CASBestätigte E-Mail-Adresse bei ucr.edu
- Alireza KhanakiIntel CorporationBestätigte E-Mail-Adresse bei intel.com
- Renjing ZhengResearch assistant, UC RiversideBestätigte E-Mail-Adresse bei ucr.edu
- Muhammad MorshedPhD, Electrical Engineering, U C RiversideBestätigte E-Mail-Adresse bei ucr.edu
- Jingjian RenSanDisk, Corp., UC RiversideBestätigte E-Mail-Adresse bei ucr.edu
- Mohammad SujaPhD, Electrical Engineering, University of California RiversideBestätigte E-Mail-Adresse bei intel.com