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Koautoren
- Mark BrongersmaStanford UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei stanford.edu
- Bruce ClemensProfessor of Materials Science and EngineeringBestätigte E-Mail-Adresse bei stanford.edu
- Linyou CaoNorth Carolina State University, STANFORD University, Drexel University, Peking UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei alumni.stanford.edu
- Jaichan LeeProfessor of Materials Science and Engineering, Sungkyunkwan UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei skku.edu
- Tae-yil EomKorea Electronics Technology InstituteBestätigte E-Mail-Adresse bei keti.re.kr
- Srijita NundyUniversity of ExeterBestätigte E-Mail-Adresse bei exeter.ac.uk
- Minwoo CHOSKKUBestätigte E-Mail-Adresse bei skku.edu
- Min Chan KimJeju National UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei jejunu.ac.kr
- Jeong-Suong YangSamsung Electro-MechanicsBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
- Hyun Woo NhoHanyang UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei hanyang.ac.kr
- chul-soon leeSamsung DisplayBestätigte E-Mail-Adresse bei korea.ac.kr
- Thanh Lam NGUYENThe University of Florida in GainesvilleBestätigte E-Mail-Adresse bei chem.ufl.edu
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Joon-Shik Park
Chief Researcher of Smart Sensor Covergence Research Center, Korea Electronics Tech. Inst.
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