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Koautoren
- Henning HeuerProf. Dr.-Ing., TU Dresden, Fraunhofer IKTS DresdenBestätigte E-Mail-Adresse bei ikts.fraunhofer.de
- Bernd KöhlerSenior Scientist, Matrial Diagnostics, Fraunhofer IKTSBestätigte E-Mail-Adresse bei ikts.fraunhofer.de
- Klaus-Juergen WolterProfessor für Verfahrenstechnologie der Elektronik, TU DresdenBestätigte E-Mail-Adresse bei tu-dresden.de
- Udo NetzelmannFraunhofer Institute for Nondestructive TestingBestätigte E-Mail-Adresse bei izfp.fraunhofer.de
- Gerd DobmannScience NDTBestätigte E-Mail-Adresse bei dozent.di-uni.de
- Martin OppermannTechnische Universität DresdenBestätigte E-Mail-Adresse bei zmp.et.tu-dresden.de
- Issa HakimPh.DBestätigte E-Mail-Adresse bei purdue.edu
- Kopycinska Mueller, MalgorzataIKTS-MDBestätigte E-Mail-Adresse bei ikts-md.fraunhofer.de
- Jürgen SchreiberFraunhofer-Institut IKTS-MDBestätigte E-Mail-Adresse bei ikts-extern.fraunhofer.de
- Leonard J. BondProfessor, Iowa State UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei iastate.edu
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Norbert G Meyendorf
Professor Materials Engineering, University of Dayton
Bestätigte E-Mail-Adresse bei udayton.edu